基本信息

仪器名称:X射线粉末衍射仪系统

仪器型号:RIGAKU Ultima IV

生产产家:日本株式会社理学公司

测试须知


 

性能参数

功能特点:系统匹配的多功能样品台部件,可以实现薄膜、织构、应力以及倒易空间的分析测试工作。系统可对多晶和非晶样品进行结构参数分析,并实现各种样品的快速倒易空间、织构、应力等快速测试,直观的得到物质诸多晶面的织构及应力分布状况;分析软件可以计算薄膜样品的折射率、密度、厚度、粗糙度、应力、织构分布等多种性能。


性能指标:测角仪半径 285mm

                      光路切换   CBO模式自动切换

                       零维、一维双探测器

                      扫描方式:    θ-θ 可联动或单动, 垂直方式


应用范围:是分析各种材料包括液体,金属,矿物质,高分子材料,催化剂,塑料,陶瓷,医药,薄膜涂层,和半导体等高科技无损方法。应用包括相分析,晶体结构和残余应力,纳米材料等。

主要附件:原位高温附件,温度范围:室温~1500°C;薄膜样品测试系统

 


Copyright © 2010-2017 福州大学化学学院版权所有 书记信箱 院长信箱
地址: 中国福建省福州市福州地区大学新区学园路2号 邮编: 350116 电邮: hxxy@fzu.edu.cn 电话: 0591-22866234 传真: 0591-22866227
Design&Operations By Zeze